硅錠PL設(shè)備
簡介
此硅錠PL設(shè)備為硅片生產(chǎn)者提供把控硅錠質(zhì)量的有效途徑
硅錠的質(zhì)量決定了最終制成電池片的最大效率。
通過評估硅錠PL圖像中絨絲占比與黑斑占比等條件，可預(yù)測出硅錠效率參考值。
通過硅錠評估測試結(jié)果，可以協(xié)助優(yōu)化生產(chǎn)工藝。
產(chǎn)品特性
每塊硅錠檢測整體耗時(shí)小于30s
無接觸式檢測，不會(huì)對硅錠造成二次損傷
提前篩選出問題硅錠，節(jié)約制造成本
自動(dòng)檢測硅錠內(nèi)絨絲占比，預(yù)估效率參考值
技術(shù)指標(biāo)
可檢測缺陷：
絨絲、黑斑等
相機(jī)類型：
高清紅外線掃工業(yè)相機(jī)
適用硅錠高度規(guī)格：
156~400mm
硅錠PL圖像
短錠圖像
長錠圖像
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